新品發布丨奧譜天成推出三維熒光分光光度計ATF4500:性能革新,熒光檢測新方向
新品發布丨奧譜天成推出三維熒光分光光度計ATF4500:性能革新,熒光檢測新方向
2025年9月26日,奧譜天成成功舉辦ATF4500三維熒光分光光度計線上新品發布會。本次發布會以“光譜新視界—生命·環境·未來 三維熒光的多維守護”為主題,技術團隊深入解讀了ATF4500的核心技術優勢與性能突破,并結合生命科學、環境監測、食品安全等領域的實際應用案例,展現了該設備在多行業檢測中的實用價值。
在熒光檢測領域,三維熒光光譜因能夠同時獲取激發與發射波長的完整信息,被譽為“光譜指紋”技術,具有檢測快速、信息豐富、適用范圍廣的顯著優勢。奧譜天成全新推出的ATF4500三維熒光分光光度計,以創新光學設計和性能,實現更高靈敏度、更寬檢測范圍和更快掃描速度,為生命科學、環境監測、食品安全等多領域的精密分析提供強大支持。
丨強大功能集于一身 科研的好助手
高效率、可靠性的光學系統
光源:性能的150W大功率氙燈
光柵:高級定制光柵,實現更高的分辨率0.8 nm
水平光束設計:水平的狹縫方向,樣品量低至0.6 mL
自動快門控制功能
自動快門:快門控制功能在沒有測試進行時可以保持,快門關閉,避免樣品被激發光照射而變質
時間掃描測試:脈沖激發光和熒光同步檢測,可進行樣品的高靈敏度測試
(時間掃描時有無快門控制下衰減情況比較)
高性能PMT探測器
光譜范圍:200-900 nm,提升27%
PMT增益可調:電壓提高50%,靈敏度提高60%
保護系統:雙重自動保護
多級狹縫
狹縫多檔可選:光譜帶寬可以從1nm-20nm進行5級切換,多級狹縫可以兼顧高分辨和寬范圍測試
豐富的熒光附件
軟件功能
丨應用廣泛 賦能多行業檢測
丨實測表現亮眼
茶葉
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